Amazon Bedrock の VLM で外観検査の検出率を改善:判定の出力順序と分離の効果を検証
出典: DevelopersIO (Claude tag)
Hiroba による自動要約
Amazon Bedrock の VLM (Claude Haiku 4.5) による外観検査で、出力スキーマのキー順が検出率に大きく影響することを発見。判定(verdict)を欠陥候補(findings)より後に書かせることと、判定処理を VLM から分離することで、複数条件で検出率が向上。前回の結果を再分析し、プロンプト設計の細部が精度に影響することを実証。
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